纳米材料的计量检测项目明细

纳米材料的计量测试设备通常包括:场发射透射电子显微镜、原子力显微镜、X射线衍射仪、光电子能谱仪等微区微貌测试设备。主要用于进行纳米测量和纳米材料测试研究。纳米计量和纳米材料检测与评价技术研究是纳米技术的重要组成部 分,为发现纳米领域的新现象、研究新方法、 创造新产=品提供基础技;术支持和服务;纳米材料和器件的测量和具体性能测试将是判断和识别纳米科技产品的重要和基本的技术指标，是规范市场的重要技术保证:随着知识经济的发展和世界贸易的化,进入市场的产品必须满足相应的质量检验要求,实现国家标准和检验实验室报告的相互认可，这对消除技术性贸易壁垒具有重要的现实意义，对提高城市综合竞争力和保持可持续发展具有长远而深远的意义。

纳米材料计量检测项目:

测量刻蚀掩模、磁介质、 CD/DVD、生物材料、光学材料和其他样品的表面特性(AFM)。:

测量半导体材料的掺杂浓度和禁带宽度(SCM)。:

表面形貌观察、微观结构观察、粒度分析、断面性质分析、微区成分分析(SEM铁扫描电镜)。:

形貌观察、物相分析、晶体结构测定、缺陷分析、成分分析、元素分布分析和化学状态分析(Fe-TEM)。:

固体样品表面的成分和化学状态分析。能在纳米层区域进行定性、半定量和价态分析;

定性定量分析，晶粒大小和畸变,晶系测定,晶格常数精度，高分子材料，纳米材料,长周期，粒度分布分析,极点，应力，薄膜测试(XRD)。:

固体比表面积、孔体积和孔分布的测量(比表面积和孔院率分析仪)。:

样品表面比表面积的红外光谱。:

纳米和亚微米尺寸颗粒或乳液的粒度分析可以测量平均粒度和多分散指数(PcS)。:

亚微米和微米尺寸颗粒或乳液的粒度分析可以测量粒度分布、平均粒度和中值直径(激光衍射粒度分析仪。:

测量各种纯液体中0.4-1200毫米范围内的颗粒数量和颗粒尺寸分布(颗粒计数器)。.